聚光科技M5000全谱直读光谱仪
M5000 台式直读光谱仪用于快速定量分析多种金属材料中的化学元素。仪器操作简单,维护方便,分析精度完全达到实验室要求,并可以在炉前环境下长期使用,稳定可靠。仪器采用帕型-龙格多CCD光学系统, 可分析元素的波长范围从140nm 到680nm,满足金属行业中
显微紫外可见近红外分光光度计
MSV-5000系列是测量紫外区域到近红外区域广范围波长领域内的微小样品以及微小部位的透过・反射测量的显微分光系统。广泛应用于电子元件的透过・反射特性的评价、半导体的能隙测量,计测膜厚、功能性结晶光学特性评价、色彩分析等领域。
FWS-750、FWS-1000、ICP-1000II
我司北京华洋公司(1989成立)所产仪器均自行研发生产,不论从检出限、灵敏度、精密度等多项技术指标都达到甚至超过国家行业标准,公司成立至今已有21年历史,公司技术实力雄厚.仪器价格实惠性能优良稳定,有良好的售后服务,欢迎来电垂询.( 深圳办事处 黄敬华 13632977860
膜厚测定装置
自动绝对反射率测量装置一边变化照到样品的入射角,一边测量反射率以及透过。用于太阳能电池零件,半导体,薄膜,光学元件等各种固体样品的分光特性或者膜厚等的测量。入射角通过旋转样品台设定,受光角通过滑动积分球控制。另外,能用非同步方式分别设定入射角和受光角
带Peltier温控的自动旋光仪
Peltier 元件的特点是,玻璃内有金属套筒,探针里有温度传感器。Peltier良好的绝缘性和配置使样品温度均一,因此不用水浴恒温器而能实现精确测量。
氢氘灯
ZHGY-9 氢氘灯:适用于各大学光谱实验用,可用于标定波长。其主要谱线为:氢:656.28nm、486.13nm、434.05nm、410.18nm氘:656.11nm 、486.01nm、433.93nm、410.07nm
自动绝对反射率测量系统
自动绝对反射率测量装置一边变化照到样品的入射角,一边测量反射率以及透过。用于太阳能电池零件,半导体,薄膜,光学元件等各种固体样品的分光特性或者膜厚等的测量。入射角通过旋转样品台设定,受光角通过滑动积分球控制。另外,能用非同步方式分别设定入射角和受光角
